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光栅同轴线光源-光滑表面缺陷检测案例
2026/9/29 4:31:21 网站建设 项目流程

原理
使用新型光学元件,配合同轴线光源可对光滑表面进行凹凸检测。光源上配有光栅元件,当检测到凹凸点时,条纹的成像就会发生变形,此变形的位置即为凹凸点的位置。

产品特点
■透光性高, 均匀性好
■设计配合同轴线光
■特殊光学设计,成像效果良好

行业应用
■光滑表面凹凸、划伤、黑点等缺陷检测

应用案例
1.反光膜曲面、凹凸点检测

样品图1

效果图1

2.手机偏光膜曲面、凹凸点检测

样品图2

效果图2

说明:对于光滑表面的凹凸点,通过判断条纹的弯曲很容易找出缺陷位置,放大缺陷。线阵检测面积大,可根据样品的大小选择相对大的光源来满足视野的,均匀性相对面阵更有优势。

3.偏光膜轻微划伤等缺陷检测

样品图3

效果图3

说明:对于光滑表面的轻微划伤点,常规的光源检测很难看到缺陷,通过光栅同轴光源后,缺陷部分呈现出栅格杂乱,凸显出缺陷,有利于机器视觉识别。

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