原理
使用新型光学元件,配合同轴线光源可对光滑表面进行凹凸检测。光源上配有光栅元件,当检测到凹凸点时,条纹的成像就会发生变形,此变形的位置即为凹凸点的位置。
产品特点
■透光性高, 均匀性好
■设计配合同轴线光
■特殊光学设计,成像效果良好
行业应用
■光滑表面凹凸、划伤、黑点等缺陷检测
应用案例
1.反光膜曲面、凹凸点检测
样品图1
效果图1
2.手机偏光膜曲面、凹凸点检测
样品图2
效果图2
说明:对于光滑表面的凹凸点,通过判断条纹的弯曲很容易找出缺陷位置,放大缺陷。线阵检测面积大,可根据样品的大小选择相对大的光源来满足视野的,均匀性相对面阵更有优势。
3.偏光膜轻微划伤等缺陷检测
样品图3
效果图3
说明:对于光滑表面的轻微划伤点,常规的光源检测很难看到缺陷,通过光栅同轴光源后,缺陷部分呈现出栅格杂乱,凸显出缺陷,有利于机器视觉识别。